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致茂測(cè)試系統(tǒng) 3112致茂Chroma 3112 晶片測(cè)試分類機(jī)
3112致茂Chroma 3112 晶片測(cè)試分類機(jī)
 
                    

 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
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                  致茂Chroma 3112 晶片測(cè)試分類機(jī)高信賴度之PnP自動(dòng)化測(cè)試分類機(jī)x4 多盤置入自動(dòng)測(cè)試分類Q方位 (X/Y/Z/θ) 可調(diào)式探針座模組測(cè)式座產(chǎn)品堆迭檢測(cè)x12 輸出分類盤可程式設(shè)定輸出類別全程即時(shí)良率顯示與控制全程探針接觸狀態(tài)顯示 (選配)
product
產(chǎn)品分類| 品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 | 
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致茂Chroma 3112 晶片測(cè)試分類機(jī)
主要特色:
Chroma 3112具備單頭與多頭之適合量產(chǎn)的PnP 自動(dòng)化晶片測(cè)試分類機(jī),可藉由治具變更處理 各種不同尺寸規(guī)格之晶片測(cè)試與分類。此設(shè)備透 過PnP方式將晶片自晶片盤載入至測(cè)試站中,精 確的測(cè)試后依據(jù)測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定的放置于分類盤 中。其高效率的模組化設(shè)計(jì)與精準(zhǔn)的機(jī)構(gòu)傳動(dòng) 結(jié)構(gòu)可確保在高速運(yùn)作下減少Jam Rate的量產(chǎn)要 求,多重檢查功能裝置可降低待測(cè)物發(fā)生異常的 損壞。
晶片測(cè)試運(yùn)用此自動(dòng)化測(cè)試分類技術(shù)不僅能提升 生產(chǎn)效率、減少人力需求,同時(shí)也增加了測(cè)試穩(wěn) 定度及測(cè)試良率。此外,其簡(jiǎn)潔的機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì)更可 節(jié)省機(jī)臺(tái)于測(cè)試廠之占地面積,幫助客戶大幅降 低生產(chǎn)成本。

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| Model | Description | 詢價(jià) | 
|---|---|---|
| 3112 | 晶片測(cè)試分類機(jī) | 
致茂Chroma 3112 晶片測(cè)試分類機(jī)